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Considered a definitive text in this area, the book includes in-depth discussions of the following topics:
Test generation
Fault modeling for classic and new technologies
Simulation
Fault simulation
Design for testability
Built-in self-test Diagnosis
All topics are covered extensively, from fundamental concepts to advanced techniques.
Successfully used world-wide at leading universities, the book is appropriate for graduate-level and senior-level undergraduate courses. Numerous examples and problems help make the learning process easier for the reader. Test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers will find it an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.
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EUR 48,99
Von Deutschland nach USA
Buchbeschreibung Gebunden. Zustand: New. Über den AutorMiron Abramovici is a Distinguished Member of the Technical Staff at AT&T Bell Laboratories in Murray Hill, and an Adjunct Professor of Computer Engineering at the Illinois Institute of Technology in Chicago. Melvi. Artikel-Nr. 447062051
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