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Verlag: Springer, Berlin, 1992
ISBN 10: 0306442493ISBN 13: 9780306442490
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
Buch
Gebunden. Zustand: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.